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LDO 功耗与稳态结温预算工具

把LDO压差损失与地电流功耗合并,再按指定结到环境热阻估算稳态结温。

器赋开物编辑整理 · 发布于 2026-10-23 · 公开公式与合成算例

输入参数与原始数据

内容只在浏览器中处理。先用示例核对格式,再代入你的输入。

本地工作台 · 参数与规则可复查

处理结果

芯片耗散
0.175
W
估算结温
42.5
℃
功率效率
65.3465346535
%

θJA取决于PCB、铜面积和气流,结温只是给定热阻下的稳态估算,不验证瞬态或压差能力。

计算与格式检查只覆盖下面列出的模型和规则。结果不等于真实设备测试或可直接烧录的配置。

计算公式与适用范围

Pd=(Vin−Vout)Iout+Vin×Ig;Tj≈Ta+Pd×θJA

把LDO压差损失与地电流功耗合并,再按指定结到环境热阻估算稳态结温。热阻取决于PCB和散热条件,不是脱离安装环境的器件常数。

可复算的示例

5V转3.3V、100mA、地电流1mA时耗散0.175W;θJA=100℃/W、环境25℃时约42.5℃。

如何选择输入参数?

  1. 先核对字段单位与下面的模型条件。
  2. 用默认算例检查输入含义,再替换为你的参数。
  3. 计算后将结果与独立推导、设备手册或原始数据对照。

怎样核对计算结果?

  • 默认数值用于数学或协议复算,不是硬件实测。
  • 错误输入应显示原因,修改参数后须重新运行。

模型边界

不验证压差、输出稳定性和瞬态温升;温度为假设热阻下预测,不能代替板级热测。

资料来源与整理方式

公式和约束参考 TI:LDO热阻现场测量;具体参数仍以你的器件、控制器和固件版本为准。

页面由 AI 辅助整理,计算函数经过独立算例与非法输入测试;没有使用真实硬件测量替代模型验证。关于器赋开物 · 反馈问题

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